一种适应多芯场景的安全芯片业务测试系统设计A Multi-Core Adaptable Automatic Workflow Testing System Design for Security Chip
周 静, 付青琴, 刘 佳, 白雪松, 梁昭庆 下载量: 515 浏览量: 1,089
软件工程与应用 Vol.9 No.5, October 28 2020, PDF, HTML, XML DOI:10.12677/SEA.2020.95050 被引量