X射线双晶衍射在半导体材料及结构分析中的应用
Application of X-Ray Dual Crystal Diffraction in Semiconductor Materials and Structure Analysis
关志强, 唐吉龙, 魏志鹏, 牛守柱, 方 铉, 房 丹, 王登魁, 贾慧民, 王晓华 下载量:
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国家自然科学基金支持
材料科学
Vol.8 No.1, January 30 2018, PDF,
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DOI:10.12677/MS.2018.81005 被引量