贮存剖面下考虑镀层厚度的电连接器接触性能退化模型研究Study on Contact Degradation Model of Elec-trical Connectors Considering Plating Thickness under Storage Profile
陈哲文, 谢诗伟, 钟立强, 郭鸿杰, 颜佳辉 下载量: 157 浏览量: 2,178 科研立项经费支持
建模与仿真 Vol.12 No.2, March 30 2023, PDF, HTML, XML DOI:10.12677/MOS.2023.122148 被引量