JAST  >> Vol. 5 No. 2 (June 2017)

国际航空航天科学
Journal of Aerospace Science and Technology
Vol.5 No.2(2017), Paper ID 21193, 9 pages
DOI:10.12677/JAST.2017.52011

ARINC659总线接口组件抗单粒子翻转加固设计及试验验证
Design and Experiment of Single Event Upset Hardened ARINC659 Bus Interface Components

汪路元,刘伟伟,徐 轲:北京空间飞行器总体设计部,北京

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汪路元, 刘伟伟, 徐轲. ARINC659总线接口组件抗单粒子翻转加固设计及试验验证[J]. 国际航空航天科学, 2017, 5(2): 90-98. https://doi.org/10.12677/JAST.2017.52011