X射线双晶衍射在半导体材料及结构分析中的应用
Application of X-Ray Dual Crystal Diffraction in Semiconductor Materials and Structure Analysis

关志强,唐吉龙,魏志鹏,牛守柱,方 铉,房 丹,王登魁,贾慧民,王晓华：长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室，吉林 长春

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