沉积氧压对二氧化钒薄膜结构、光电性能及其MIT相变特性的影响研究
The Influence of Oxygen Pressure on the Structure, Optoelectronic Properties, and MIT Characters of VO2 Thin Films
陶 欣,陆 浩,李 派,卢寅梅,何云斌：湖北大学材料科学与工程学院，功能材料绿色制备与应用教育部重点实验室(湖北大学)，湖北 武汉
版权 © 2017 陶 欣, 陆 浩, 李 派, 卢寅梅, 何云斌。本期刊文章已获得知识共享署名国际组织(Creative Commons Attribution International License)的认证许可。您可以复制、发行、展览、表演、放映、广播或通过信息网络传播本作品；您必须按照作者或者许可人指定的方式对作品进行署名。