基于ULVI技术的PVDF隔膜显微结构表征研究
Research on Microstructure Characterization for PVDF Diaphragm Based on Ultra Low Voltage Imaging (ULVI) Technology
季英瑜,倪成员,丁小康,张 奇:衢州学院,浙江 衢州
版权 © 2017 季英瑜, 倪成员, 丁小康, 张 奇。本期刊文章已获得知识共享署名国际组织(Creative Commons Attribution International License)的认证许可。您可以复制、发行、展览、表演、放映、广播或通过信息网络传播本作品;您必须按照作者或者许可人指定的方式对作品进行署名。