Zhong, K.H., Ding, M.Y. and Zhou C.P. (2004) Texture defect inspection method using difference statistics feature in wavelet domain. Systems Engineering and Electronics, 26, 660-665.

相关文章:
在线客服:
对外合作:
联系方式:400-6379-560
投诉建议:feedback@hanspub.org
客服号

人工客服,优惠资讯,稿件咨询
公众号

科技前沿与学术知识分享