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Hussein, M.G., Wörhoff, K., Roeloffzen, C.G.H., Hilderink, L.T.H., de Ridder, R.M. and Driessen, A. (2001) Characterization of thermally treated PECVD SiON layers. IEEE/LEOS Benelux Chapter 2001 Annual Symposium, Brussel, 3 December 2001, 1-4.

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