ARINC659总线接口组件抗单粒子翻转加固设计及试验验证Design and Experiment of Single Event Upset Hardened ARINC659 Bus Interface Components
汪路元, 刘伟伟, 徐 轲 下载量: 1,329 浏览量: 3,027 国家自然科学基金支持
国际航空航天科学 Vol.5 No.2, June 29 2017, PDF, , XML DOI:10.12677/JAST.2017.52011 被引量