一种适应多芯场景的安全芯片业务测试系统设计
A Multi-Core Adaptable Automatic Workflow Testing System Design for Security Chip
周 静,付青琴,刘 佳,白雪松,梁昭庆：北京智芯微电子科技有限公司，国家电网公司电力芯片设计分析重点实验室，北京；北京智芯微电子科技有限公司，北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心，北京
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