基于遗传算法的最大熵双阈值分割的芯片缺陷图像分割
Chip Defect Image Segmentation Based on Maximum Entropy Double Threshold Segmentation Based on Genetic Algorithm
李祥鹏,秦襄培,岑 亮,张毅恒：武汉工程大学机电工程学院，湖北 武汉
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