基于双通道多模态卷积网络的电子元器件缺陷分类检测
Defect Classification in Electronic Components Using Dual-Channel Multi-Modal Convolutional Network
程克林：上海赫立智能机器有限公司，上海
版权 © 2017 程克林。本期刊文章已获得知识共享署名国际组织(Creative Commons Attribution International License)的认证许可。您可以复制、发行、展览、表演、放映、广播或通过信息网络传播本作品；您必须按照作者或者许可人指定的方式对作品进行署名。