基于遗传算法优化卷积神经网络的IGBT剩余寿命预测
Prediction Remaining Life of IGBT Using Convolutional Neural Network Optimized by Genetic Algorithm
龚丹丹,李 涵,袁 颖:上海对外经贸大学统计与信息学院,上海;赵立有:上海精密计量测试研究所元器件保证事业部,上海
版权 © 2017 龚丹丹, 李 涵, 袁 颖, 赵立有。本期刊文章已获得知识共享署名国际组织(Creative Commons Attribution International License)的认证许可。您可以复制、发行、展览、表演、放映、广播或通过信息网络传播本作品;您必须按照作者或者许可人指定的方式对作品进行署名。