背照式CMOS图像传感器像素结构影响分析
Analysis for the Influence of Pixel Structure in Backside Illuminated CMOS Image Sensor
王 玮：上海集成电路研发中心有限公司，上海
版权 © 2017 王 玮。本期刊文章已获得知识共享署名国际组织(Creative Commons Attribution International License)的认证许可。您可以复制、发行、展览、表演、放映、广播或通过信息网络传播本作品；您必须按照作者或者许可人指定的方式对作品进行署名。