|
[1]
|
Bhadha, P.M., Watanabe, T. and Fraenkel, D. (2001) Dehydroxylated High-Silica Zeolites for Removal of Trace Moisture to Prepare Acid Gas Etchants for Semiconductor Wafer Fabrication. WO 01/76723 A1.
|
|
[2]
|
林宇巍. SEMI标准关于电子气分析方法概述[J]. 质量技术监督研究, 2011(3): 15-21.
|
|
[3]
|
牛丽红, 于世林. 国内高纯气体应用现状[J]. 低温与特气, 2010, 28(3): 7-9.
|
|
[4]
|
Zhou, D., John, J.P., Jursich, G.M., et al. (2003) Method and Apparatus for Corrosive Gas Purification. US 20030221947 A1.
|
|
[5]
|
Motz, K.L., Freire, F.J., Edwards, E.G., et al. (1992) Process for Purifying Hydrogen Fluoride. US 5108559 A.
|
|
[6]
|
Borzio, J. and Jacksier, T. (1998) Purification of Electronic Specialtygases by Vapor Phase Transfilling. EP 0856715 A2.
|
|
[7]
|
Repman, J.F., Morris, T.E. and Hill, T.F. (1990) Method of Removing Impurities from Anhydrous Hydrogen Chloride. EP 0380014 A1.
|
|
[8]
|
郑秋艳, 王少波, 李少波, 等. 电子气体主要杂质分析方法综述[J]. 低温与特气, 2008, 26(1): 13-18.
|
|
[9]
|
尹恩华. 气体中的颗粒与金属杂质探讨[J]. 低温与特气, 1992(2): 8-11.
|
|
[10]
|
崔仙航, 徐学敏, 严性, 等. 高纯气体中痕量金属杂质的测定[J]. 半导体学报, 1989, 10(12): 945-951.
|
|
[11]
|
张文娟. 高纯气体中金属杂质分析方法综述[J]. 广州化工, 2015, 43(14): 19-21.
|
|
[12]
|
宫崎和之, 等. 气体中超微量杂质分析方法的研究(4)——特气中极微量金属杂质的捕集及分析[J]. 低温与特气, 1993(2): 50-58.
|
|
[13]
|
姜阳, 董翊, 李春华, 等. 高纯氨中金属颗粒杂质检测方法[J]. 上海计量测试, 2014(244): 44-47.
|
|
[14]
|
余自力, 程光磊. 金属离子分析技术[M]. 化学工业出版社, 2004.
|
|
[15]
|
李冰, 周剑雄, 詹秀春, 等. 无机多元素现代仪器分析技术[J]. 地质学报, 2011, 85(11): 1878-1916.
|
|
[16]
|
何元琴. SiF4气体中气体杂质和金属杂质的检测方法研究[D]: [硕士学位论文]. 贵州大学, 2016: 33-52.
|
|
[17]
|
郑秋艳, 柳彤, 李翔宇, 等. ICP-AES法分析六氟化钨中的金属粒子[J]. 舰船防化, 2011(3): 52-55.
|
|
[18]
|
刘珂珂, 庞海岩, 刘清, 等. 电感耦合等离子体质谱法测定高纯气体中痕量铝、磷、硼[J]. 河南科学, 2013, 31(10): 1613-1614.
|
|
[19]
|
陈黎明. 膜去溶进样高分辨电感耦合等离子体质谱法测定半导体级氢氟酸中杂质元素[J]. 中国无机分析化学, 2012, 2(2): 61-64.
|
|
[20]
|
郭峰, 谭红, 何锦林, 等. 改进的挥硅-ICP-MS法测定高纯四氯化硅中金属杂质[J].福建分析测试, 2006, 15(4): 7-9.
|