Devynck, F. and Pasquarello, A. (2007) Semiconductor De-fects at the 4H-SiC(0001)/SiO2 Interface. Physica B-Con- densed Matter, 401, 556-559.

相关文章:
在线客服:
对外合作:
联系方式:400-6379-560
投诉建议:feedback@hanspub.org
客服号

人工客服,优惠资讯,稿件咨询
公众号

科技前沿与学术知识分享