4H-SiC高温激活退火对F离子扩散的影响Effect of High-Temperature Activation Annealing on F Ion Diffusion in 4H-SiC
万彩萍, 王世海, 周钦佩, 许恒宇 下载量: 1,591 浏览量: 5,345 科研立项经费支持
智能电网 Vol.8 No.1, February 6 2018, PDF, HTML, XML DOI:10.12677/SG.2018.81002 被引量
退火温度对TiO2(B)纳米片作为锂离子电池负极材料性能影响Effect of Annealing Temperature on the Performance of TiO2(B) Nanosheet as Anode Material in Lithium Ion Battery
杨志勇, 王 宇, 夏晓红, Kevin Peter Homewood, 高 云 下载量: 1,046 浏览量: 2,909 国家自然科学基金支持
材料科学 Vol.9 No.2, January 31 2019, PDF, HTML, XML DOI:10.12677/MS.2019.92016 被引量
退火工艺对5083铝合金板材组织性能的影响The Effect of Annealing Technics on the Microstructures and Properties of 5083 Aluminum Alloy Sheet
卢恒洋, 邓运来, 戴青松, 张佳琪, 付 平 下载量: 2,996 浏览量: 11,693 国家科技经费支持
材料科学 Vol.4 No.4, July 23 2014, PDF, , DOI:10.12677/MS.2014.44021 被引量
退火方式对4Cr5MoSiV1钢组织演变与性能的影响Effect of Annealing Method on Microstructure Evolution and Properties of 4Cr5MoSiV1 Steel
赵 攀, 林国标, 刘献良, 赵伟朋 下载量: 1,399 浏览量: 2,289 国家科技经费支持
材料科学 Vol.8 No.4, April 26 2018, PDF, HTML, XML DOI:10.12677/MS.2018.84036 被引量
基于改进遗传退火算法的微电网运行优化研究Microgrid Optimization Scheduling Based on Improved Genetic Annealing Algorithm
张 君, 张志飞, 刘珍英, 刘 静 下载量: 688 浏览量: 1,904
电力与能源进展 Vol.8 No.1, February 12 2020, PDF, HTML, XML DOI:10.12677/AEPE.2020.81001 被引量
薄膜中的扩散与应力模型Models of Diffusion and Stress in Thin Films
林 冰, 戴钟保, 高梦滢, 王江涌 下载量: 2,388 浏览量: 7,488 国家自然科学基金支持
材料科学 Vol.6 No.6, November 30 2016, PDF, , XML DOI:10.12677/MS.2016.66053 被引量
球化退火工艺对轴承钢线材碳化物的影响Effect of Spheroidizing Annealing Process on Carbide of Bearing Steel Wire
马超, 陈红卫, 郭子强 下载量: 897 浏览量: 2,121
冶金工程 Vol.6 No.1, March 29 2019, PDF, HTML, XML DOI:10.12677/MEng.2019.61008 被引量
退火温度对ITO薄膜电导率的影响Influence of Annealing Temperature on Conductivity of ITO Films
孟庆哲, 方允樟, 马 云, 李文忠, 金林峰 下载量: 6,333 浏览量: 18,869 国家自然科学基金支持
材料科学 Vol.3 No.1, January 25 2013, PDF, , XML DOI:10.12677/MS.2013.31009 被引量
FeCuNbSiB合金薄带电流应力退火感生磁各向异性的研究An Investigation on Magnetic Anisotropy Induced in Fe-Based Ribbons during Current Stress Annealing
赵 静, 方允樟, 何兴伟, 肖 飞, 陈 明, 孟繁雪, 杨晓红, 潘日敏 下载量: 2,433 浏览量: 10,996 国家科技经费支持
材料科学 Vol.5 No.3, May 8 2015, PDF, , XML DOI:10.12677/MS.2015.53008 被引量
NO退火对4H-SiC MOS器件栅氧化层TDDB可靠性的影响Effect of NO Post-Oxide-Annealing on TDDB Reliability of 4H-SiC MOS Oxidation
万彩萍, 王影杰, 张文婷, 王世海, 周钦佩, 许恒宇 下载量: 1,376 浏览量: 4,450
智能电网 Vol.8 No.3, June 28 2018, PDF, HTML, XML DOI:10.12677/SG.2018.83032 被引量