蓝宝石衬底倒角长度均匀性研究
A Study on the Edge Chamfer Length Uniformity of Sapphire Substrate
周志豪,谢斌晖,陈铭欣,李彬彬,陈启福：福建晶安光电有限公司，福建 泉州；胡中伟：华侨大学制造工程研究院，福建 厦门
版权 © 2017 周志豪, 谢斌晖, 陈铭欣, 李彬彬, 陈启福, 胡中伟。本期刊文章已获得知识共享署名国际组织(Creative Commons Attribution International License)的认证许可。您可以复制、发行、展览、表演、放映、广播或通过信息网络传播本作品；您必须按照作者或者许可人指定的方式对作品进行署名。