1. 引言
从20世纪90年代起,许多在运压水堆核电站相继出现污垢引起的轴向功率偏移(Crud Induced Power Shift, CIPS)现象,研究表明,该现象与硼在燃料组件表面腐蚀产物中的析出密切相关 [1]。压水堆一回路中的合金材料,如蒸汽发生器采用的镍基合金和一回路主管道采用的不锈钢,在高温高压的一回路水环境中会发生腐蚀,释放出腐蚀产物,其主要成分是镍和铁。腐蚀产物进入冷却剂后,随着冷却剂迁移至一回路各处,在过冷沸腾的作用下沉积在燃料包壳表面形成污垢(Chalk Rivers Unidentified Deposit, CRUD)。CRUD通常为疏松多孔的形貌,这使得冷却剂中的硼酸能够在CRUD内部富集并析出。由于硼元素中的同位素硼10具有较大的热中子吸收截面,能有效吸收冷却剂中的热中子。因此在硼析出的区域中子通量会降低,引起堆芯功率分布不均,严重时引起CIPS。
在反应堆中使用富集硼作为一回路的化学补偿控制手段,可有效降低主流体硼酸浓度,提高一回路冷却剂pH值,缓解结构金属材料的腐蚀;同时降低调节一回路冷却剂pH值的碱化剂(如LiOH溶液)浓度,减轻锆合金的腐蚀;还可以加深燃耗,提高核电站的经济效益 [2]。由于富集硼的优势,已有电厂采用富集硼替代天然硼作为一回路添加剂 [3]。
同位素硼10才是影响燃料组件局部功率的根本因素,因此不论是使用富集硼还是天然硼,最终关注的都是硼10在CRUD中的析出总量。本文提出了一种由微尺度沸腾、硼析出以及物理吸附模型组成的热工水力模型,用于模拟硼元素核同位素硼10在CRUD中的析出过程。中广核研究院自主开发的污垢分析软件CAMPSIS [4] 具有模拟硼析出的功能,并对该模型进行了功能实现和验证。本文使用CAMPSIS分析了富集硼和天然硼对某压水堆CIPS风险的影响程度,结果表明使用富集硼并不一定能够降低CIPS风险。
2. 微尺度沸腾模型
本模型用于模拟CRUD内部发生的局部沸腾,分析CRUD法向温度变化趋势。
2.1. CRUD形貌模型
一回路金属材料被腐蚀后会向冷却剂中释放腐蚀产物,腐蚀释放产物随着冷却剂迁移,会在堆内金属结构部件上形成CRUD,其实际形貌非常复杂。I. Haq [5] 等人对电厂中实际的CRUD进行了分析研究后,将CRUD假想为一种均匀的多孔物质,用孔隙密度、孔隙率、孔隙半径等参数描述CRUD物理形态,其结构如图1所示。

Figure 1. Physical Form Model of CRUD [5]
图1. CRUD物理形态模型 [5]
由于孔隙的存在,使得CRUD实际沉积面积Aeff小于可能发生沉积的面积Ad。基于假想的CRUD模型,可得到Aeff以及CRUD在沉积区域的平均厚度δc的公式:
(1)
(2)
其中:Ap表示CRUD孔隙所占的表面积,单位为cm2;Nc表示孔隙密度,单位为个/cm2;rc表示孔隙平均半径,单位为cm;mc表示CRUD质量,单位为g;δc表示CRUD厚度,单位为cm;ρc表示CRUD密度,单位为g/cm3。
2.2. 冷却剂在CRUD中的沸腾模型
由于孔隙的存在,冷却剂会通过毛细吸附效应进入CRUD,在CRUD内部发生沸腾,并最终以气泡的形式返回至冷却剂中,这一现象称为微尺度沸腾 [6]。图2表示CRUD物理模型中某一个孔隙内发生的传热过程,当达到稳定状态时,通过冷却剂对流换热带走的热量qc等于微尺度沸腾产生的热量qe,从而使蒸汽通道稳定存在。
微尺度沸腾现象引起CRUD内部传热条件发生变化,导致CRUD沿厚度方向的温度场发生变化,影响硼析出。J. Henshaw [6] 等人在Cohen一维沸腾模型的基础上,开发出可以表征沿CRUD厚度方向温度分布的模型:
(3)
令
,
,式(3)可写成如下的形式:
(4)

Figure 2. Schematic Diagram of Heat Transport during Micro-Scale Boiling [6]
图2. 微尺度沸腾过程中热量传递示意图 [6]
式(4)为二阶常系数齐次线性微分方程,通解形式为:
(5)
在CRUD与冷却剂交界处,CRUD表面温度与冷却剂温度相同,即:
(6)
在CRUD底部,根据能量守恒可得:
(7)
其中:T表示CRUD内部温度,单位为K;Ts、T0分别表示冷却剂饱和温度、冷却剂温度,单位为K;x表示CRUD中某一位置的深度,单位为μm。
f表示CRUD有效传热面积系数,由式(1)可得:
(8)
其中:hc表示蒸发换热系数,单位为W/(m2∙K);kc,e表示沸腾区域的CRUD导热系数,单位为W/(m∙K);q表示燃料包壳与CRUD接触面上的热流密度,单位为W/m2。
假设T0 = Ts,联立式(5)~式(8)可得:
(9)
式(9)可用于计算灯芯沸腾效应造成的CRUD内部温度分布。在给定的一回路热工状态下,可得到沿燃料CRUD厚度法向冷却剂温度分布,如图3所示。
3. 硼析出模型
一般认为,硼主要以偏硼酸锂(LiBO2)的形式析出沉积从而造成堆芯发生CIPS [7]。本模型用于模拟CRUD法向LiBO2饱和溶解度变化引起的硼析出。
3.1. CRUD中硼锂的富集
在微尺度沸腾的作用下,随冷却剂一同进入CRUD内部的腐蚀释放产物以及硼、锂元素会发生富集。这些物质的富集同时也会加速硼与锂之间的化学反应,进一步促进硼的析出。

Figure 3. Coolant temperature distribution along the thickness of CRUD
图3. 沿CRUD厚度的冷却剂温度分布
Frattini等人提出了“浓度因子”的概念,用于描述CRUD内部微尺度沸腾引起的局部物质浓度富集 [8]:
(10)
其中:CFi表示某种物质的浓度因子,为无量纲数;Ci,clad表示某种物质在CRUD内部富集后的浓度,单位为ppm;Ci,bulk表示冷却剂中某种物质的浓度,单位为ppm;ṁe表示冷却剂的蒸发速率,单位为g/cm2∙s;Di表示物质扩散系数,单位为cm2/s,根据Stokes-Einstein公式 [9] 求得;i对应硼、锂元素;ρs表示冷却剂饱和状态下的密度,单位为g/cm3;ε表示CRUD孔隙率。
式(10)表明,某物质发生浓度富集的条件为:CRUD达到一定厚度,且在CRUD内部了发生微尺度沸腾。当某物质在冷却剂中的浓度已知时,沿CRUD厚度方向,CRUD底部物质浓度Ci,clad是与CRUD厚度δc相关的量,其本质上是基于δc的指数函数。随着CRUD厚度增加,Ci,clad增加,CRUD底部与冷却剂的浓度差也增大。因此,在CRUD某一厚度上,硼、锂元素富集后的浓度为:
(11)
(12)
其中:下标x表示CRUD厚度,单位为cm;CB,clad,x、CLi,clad,x分别表示富集后的硼、锂浓度,单位为ppm;CB,bulk、CLi,bulk分别表示冷却剂中的硼、锂浓度,单位为ppm。
3.2. 硼析出的临界厚度
由于LiBO2是PWR中最重要的含硼析出物,本模型认为硼元素在一回路环境中全部以LiBO2的形式析出。考虑到一回路冷却剂中硼浓度相对于锂浓度总是充足的,因此,当发生LiBO2析出时,首先需要满足锂浓度达到临界值。
对于LiBO2,其饱和溶解度是与温度相关的函数 [10]:
(13)
其中:
表示LiBO2的饱和溶解度,单位为mol/kg;T表示温度,单位为℃。
微尺度沸腾会造成CRUD内部温度沿CRUD厚度方向发生变化。将Tx代入,可得到CRUD某一深度处LiBO2的饱和溶解度:
(14)
其中,下标x表示CRUD厚度,单位为cm。
求得LiBO2饱和溶解度后,可反推LiBO2析出时的临界锂浓度:
(15)
其中:下标x表示CRUD厚度,单位为cm;CLi,crt,x表示LiBO2析出时的临界锂浓度,单位为ppm;MLi表示Li的摩尔质量,单位为kg/mol。
当CLi,clad,x大于临界锂浓度CLi,crt,x时,硼元素即以LiBO2的形式析出,记此时CRUD厚度为δpre;由式(12)可得,当CRUD内部温度Tx升高至某一数值后,
趋近于0,记
为0时对应的CRUD厚度为
,即CRUD厚度达到
时,CRUD中富集的硼元素也以LiBO2析出。取δpre和
之间的较小值,作为硼析出的临界CRUD厚度,记为δcrt。当CRUD厚度大于临界厚度时,即发生硼析出。
4. 硼的物理吸附模型
在上述模型中,硼析出存在一个CRUD临界厚度,CRUD厚度只有超过该临界厚度时才会析出硼。而物理吸附对硼析出的影响是通过静电力产生作用,只要在过冷沸腾区域有CRUD形成,就会产生CRUD对硼元素的吸附。Fletcher等人 [11] 通过试验得到人造CRUD物理吸附引起的硼析出曲线,选用其在316℃进行的试验数据,可拟合出每克CRUD吸附的硼元素质量与主流体硼浓度间的关系式:
(16)
其中:Cad,x表示每克污垢中硼因物理吸附沉积的质量,单位为g/g。
5. 模型应用及分析结果讨论
基于硼析出模型和硼物理吸附模型,若CRUD厚度未达到临界厚度,硼物理吸附模型贡献全部的硼析出量;当CRUD厚度达到临界厚度,硼析出和硼物理吸附共同贡献硼析出量。中广核研究院自主开发的污垢分析软件CAMPSIS考虑了以上模型 [4]。
选取某PWR机组平衡循环,分别模拟其采取天然硼酸溶液(富集度为20%)以及富集硼酸溶液(富集度为37%)作为一回路添加剂时CRUD总量以及硼析出总量的变化情况,作为评估富集硼对CIPS风险影响的依据。进行模拟计算所需的热工水力参数由子通道程序LINDEN提供 [12]。
由图4可知,相对于天然硼,富集硼可以降低CRUD总量。这是由于采用富集硼后,堆内一回路冷却剂pH值可适当提高,从而降低了一回路结构金属材料的腐蚀释放速率 [13] ,减少了一回路的腐蚀产物。由图5可知,CRUD最大厚度存在先减后增的趋势。拐点前CRUD最大厚度决定于再次入堆旧组件上原有的CRUD,随着反应堆运行,旧组件上的CRUD逐渐溶解,因此CRUD最大厚度也逐渐减小;拐点后CRUD最大厚度决定于新组件上逐渐沉积的CRUD,因此CRUD最大厚度在拐点后呈现逐渐增大的趋势。
基于图4的CRUD总量,可得到堆内的硼析出总量,如图6所示。由图6可知,相对于天然硼,富集硼可以降低堆内的硼析出总量。由式(10)可知,硼析出总量宏观上受到硼浓度、CRUD厚度的影响,在寿期中,由于富集硼浓度较低,且此时CRUD厚度逐渐由减变增,因此富集硼的硼析出总量出现轻微的上升趋势,但随着硼浓度的进一步下降,硼析出总量很快又继续减小。总的来说,采用富集硼后一回路的硼浓度大幅下降,最终也减少了硼析出总量。
基于图6的硼析出总量,可进一步得到堆内的硼10析出总量,如图7所示。由图7可知,相对于天然硼,富集硼在循环寿期末导致的硼10析出总量增多。这是由于在循环寿期末,无论采取天然硼还是富集硼,一回路中的硼酸浓度均较低,此时硼析出总量相差不大,但是富集度的差异最终导致硼10析出总量发生逆转。

Figure 7. Total Boron-10 Precipitation Mass
图7. 硼10析出总量
6. 结论
本文介绍了一种可模拟CRUD对硼析出影响的模型,并在CAMPSIS软件中进行了功能实现。基于此模型,对某PWR机组分别开展了使用天然硼和富集硼时的硼10析出总量分析计算,主要结论如下:
1) 基于硼析出模型和硼物理吸附模型,当CRUD厚度达到硼析出临界厚度前,硼物理吸附贡献所有的硼析出量;当CRUD厚度达到硼析出临界厚度后,硼析出和硼物理吸附共同作用贡献硼析出量。
2) 在相同的一回路热工状态下,若采用富集硼作为硼酸溶液,可减少CRUD总量。
3) 虽然采用富集硼能够降低CRUD总量和硼元素析出量,但在寿期末硼10的析出量却比使用天然硼时更高,这可能会引起中子通量发生更大的变化,造成压水堆CIPS风险不降反升。