Lu, H., Bailey, C. and Yin, C.Y. (2009) Design for reliability of power electronics modules. Microelectronics Reliability, 49, 1250-1255.

相关文章:
在线客服:
对外合作:
联系方式:400-6379-560
投诉建议:feedback@hanspub.org
客服号

人工客服,优惠资讯,稿件咨询
公众号

科技前沿与学术知识分享